Rasterelektronenmikroskop Jeol JSM-6510
Elektronenquelle |
Wolfram-Kathode |
Beschleunigungsspannung |
0,5 bis 30 kV |
Auflösung im SE-Bild |
3 nm bei 30 kV, 15 nm bei 1 kV |
Vergrößerungsbereich |
x5 bis x300 000 |
Probenbühne (Verfahrweg) |
X: 80 mm, Y: 40 mm, Z: 6 bis 45 mm |
Detektoren |
Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor |
Standort: Universität Bayreuth
Ansprechpartner: M.Sc. Jacqueline Uhm
Telefon: +49(0)921 55 74 61
Telefax: +49(0)921 55 74 73
Email: jacqueline.uhm@uni-bayreuth.de
